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产品名称: 高精度扫描仪系统
产品型号: 4EM500
产品展商: NEC
产品文档: 无相关文档
简单介绍
EMI可视化高精度扫描仪系统用磁场探头在测量对象上进行自动扫描,实现磁场强度分布(噪声)的可视化。本系统用PC来控制扫描仪和频谱分析仪。可用来确认噪声对策的要点和整改效果等,并且在一般的办公环境中就可以使用。高精度扫描仪系统可以测量及显示:设备、印刷电路板、LSI、元件、模块等各种对象物的磁场强度分布(噪声)。有各种选型供选择,也可以由客户定制。
高精度扫描仪系统
的详细介绍
表面扫描的磁场探头扫描法(Magnetic probe method:MP法)是NEC公司*早开发出的检查方法。NEC公司把自己开发的MP法提案中所使用的磁场探头的技术规范提交IEC组织,经IEC组织标准修订程序审核,正式形成 IEC 的国际标准IEC61967-6。NEC公司的2款EMC扫描仪(4EM200/4EM500)符合国际标准。此外,NEC公司可以根据客户需要提供测量范围在 9kHz-18GHz的磁场探头。
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大型精密EMC扫描仪 4EM500
磁场探头
NEC公司可以根据客户需要提供测量范围在 9kHz-18GHz的磁场探头。
探头型号 覆盖频率范围 生产厂家 空间分辨率
MP-10L 150KHz-1GHz NEC 1.0mm
CP-2S 10MHz-3GHz NEC 0.25mm
ALMP001 100KHz-3GHz AET 1.0mm
AEMP002 10MHz-18GHz AET 0.5mm
AEKP001 9KHz-30MHz AET 1.8mm

图1 测试系统的组成架构